![]() |
|
сделать стартовой | добавить в избранное |
![]() |
Методы рентгеноструктурного анализа |
Учреждение образования “Брестский государственный университет имени А.С. Пушкина” Реферат Методы рентгеноструктурного анализа Брест, 2010 В рентгеноструктурном анализе в основном используются три метода 1. Метод Лауэ. В этом методе пучок излучения с непрерывным спектром падает на неподвижный монокристалл. Дифракционная картина регистрируется на неподвижную фотопленку. 2. Метод вращения монокристалла. Пучок монохроматического излучения падает на кристалл, вращающийся (или колеблющийся) вокруг некоторого кристаллографического направления. Дифракционная картина регистрируется на неподвижную фотопленку. В ряде случаев фотопленка движется синхронно с вращением кристалла; такая разновидность метода вращения носит название метода развертки слоевой линии. 3. Метод порошков или поликристаллов (метод Дебая-Шеррера-Хэлла). В этом методе используется монохроматический пучок лучей. Образец состоит из кристаллического порошка или представляет собой поликристаллический агрегат. Метод Лауэ Метод Лауэ применяется на первом этапе изучения атомной структуры кристаллов. С его помощью определяют сингонию кристалла и лауэвский класс (кристаллический класс Фриделя с точностью до центра инверсии). По закону Фриделя никогда невозможно обнаружить отсутствие центра симметрии на лауэграмме и поэтому добавление центра симметрии к 32-м кристаллическим классам уменьшает их количество до 11. Метод Лауэ применяется главным образом для исследования монокристаллов или крупнокристаллических образцов. В методе Лауэ неподвижный монокристалл освещается параллельным пучком лучей со сплошным спектром. Образцом может служить как изолированный кристалл, так и достаточно крупное зерно в поликристаллическом агрегате. Формирование дифракционной картины происходит при рассеянии излучения с длинами волн от l mi = l 0 = 12,4/U , где U- напряжение на рентгеновской трубке, до l m - длины волны, дающей интенсивность рефлекса (дифракционного максимума), превышающую фон хоть бы на 5 %. l m зависит не только от интенсивности первичного пучка (атомного номера анода, напряжения и тока через трубку), но и от поглощения рентгеновских лучей в образце и кассете с пленкой. Спектру l mi - l m соответствует набор сфер Эвальда с радиусами от 1/ l m до 1/l mi , которые касаются узла 000 и ОР исследуемого кристалла (рис.1). Рис. 1 Тогда для всех узлов ОР, лежащих между этими сферами, будет выполняться условие Лауэ (для какой-то определенной длины волны в интервале (l m ё l mi ) ) и, следовательно, возникает дифракционный максимум - рефлекс на пленке. Для съемки по методу Лауэ применяется камера РКСО (рис.2). Рис. 2 Камера РКСО Здесь пучок первичных рентгеновских лучей вырезается диафрагмой 1 с двумя отверстиями диаметрами 0,5 - 1,0 мм. Размер отверстий диафрагмы подбирается таким образом, чтобы сечение первичного пучка было больше поперечного сечения исследуемого кристалла. Кристалл 2 устанавливается на гониометрической головке 3, состоящей из системы двух взаимно перпендикулярных дуг. Держатель кристалла на этой головке может перемещаться относительно этих дуг, а сама гониометрическая головка может быть повернута на любой угол вокруг оси, перпендикулярной к первичному пучку.
Гониометрическая головка позволяет менять ориентацию кристалла по отношению к первичному пучку и устанавливать определенное кристаллографическое направление кристалла вдоль этого пучка. Дифракционная картина регистрируется на фотопленку 4, помещенную в кассету, плоскость которой расположена перпендикулярно к первичному пучку. На кассете перед фотопленкой натянута тонкая проволока, расположенная параллельно оси гониометрической головки. Тень от этой проволоки дает возможность определить ориентацию фотопленки по отношению к оси гониометрической головки. Если образец 2 располагается перед пленкой 4, то рентгенограммы, полученные таким образом называются лауэграммами. Дифракционная картина, регистрируемая на фотопленку, расположенную перед кристаллом, называется эпиграммой. На лауэграммах дифракционные пятна располагаются по зональным кривым (эллипсам, параболам, гиперболам, прямым). Эти кривые являются сечениями дифракционных конусов плоскостью и касаются первичного пятна. На эпиграммах дифракционные пятна располагаются по гиперболам, не проходящим через первичный луч. Для рассмотрения особенностей дифракционной картины в методе Лауэ пользуются геометрической интерпретацией с помощью обратной решетки. Лауэграммы и эпиграммы являются отображением обратной решетки кристалла. Построенная по лауэграмме гномоническая проекция позволяет судить о взаимном расположении в пространстве нормалей к отражающим плоскостям и получить представление о симметрии обратной решетки кристалла. По форме пятен лауэграммы судят о степени совершенства кристалла. Хороший кристалл дает на лауэграмме четкие пятна. Симметрию кристаллов по лауэграмме определяют по взаимному расположению пятен (симметричному расположению атомных плоскостей должно отвечать симметричное расположение отраженных лучей). (См. рис. 3) Рис. 3 Схема съемки рентгенограмм по методу Лауэ (а – на просвет, б – на отражение, F – фокус рентгеновской трубки, К – диафрагмы, O – образец, Пл - пленка) Метод вращения монокристалла Метод вращения является основным при определении атомной структуры кристаллов. Этим методом определяют размеры элементарной ячейки, число атомов или молекул, приходящихся на одну ячейку. По погасаниям отражений находят пространственную группу (с точностью до центра инверсии). Данные по измерению интенсивности дифракционных максимумов используют при вычислениях, связанных с определением атомной структуры. При съемке рентгенограмм методом вращения кристалл вращается или покачивается вокруг определенного кристаллографического направления при облучении его монохроматическим или характеристическим рентгеновским излучением. Первичный пучок вырезается диафрагмой (с двумя круглыми отверстиями) и попадает на кристалл. Кристалл устанавливается на гониометрической головке так, чтобы одно из его важных направлений (типа ) было ориентировано вдоль оси вращения гониометрической головки. Гониометрическая головка представляет собой систему двух взаимно перпендикулярных дуг, которая позволяет устанавливать кристалл под нужным углом по отношению к оси вращения и к первичному пучку рентгеновских лучей.
Гониометрическая головка приводится в медленное вращение через систему шестерен с помощью мотора. Дифракционная картина регистрируется на фотопленке, расположенной по оси цилиндрической поверхности кассеты определенного диаметра (86,6 или 57,3 мм). При отсутствии внешней огранки ориентация кристаллов производится методом Лауэ. Для этой цели в камере вращения предусмотрена возможность установки кассеты с плоской пленкой. Дифракционные максимумы на рентгенограмме вращения располагаются вдоль прямых, называемых слоевыми линиями. Максимумы на рентгенограмме располагаются симметрично относительно вертикальной линии, проходящей через первичное пятно. Часто на рентгенограммах вращения наблюдаются непрерывные полосы, проходящие через дифракционные максимумы. Появление этих полос обусловлено присутствием в излучении рентгеновской трубки непрерывного спектра наряду с характеристическим. При вращении кристалла вокруг главного кристаллографического направления вращается связанная с ним обратная решетка. При пересечении узлами обратной решетки сферы распространения возникают дифракционные лучи, располагающиеся по образующим конусов, оси которых совпадают с осью вращения кристалла. Все узлы обратной решетки, пересекаемые сферой распространения при ее вращении, составляют эффективную, область, т.е. определяют область индексов дифракционных максимумов, возникающих от данного кристалла при его вращении. Для установления атомной структуры вещества необходимо индицирование рентгенограмм вращения. Индицирование обычно проводится графически с использованием представлений обратной решетки. Методом вращения определяют периоды решетки кристалла, которые вместе с определенными методом Лауэ углами позволяют найти объем элементарной ячейки. Используя данные о плотности, химическом составе и объеме элементарной ячейки, находят число атомов в элементарной ячейке. Метод порошка При обычном методе исследования поликристаллических материалов тонкий столбик из измельченного порошка или другого мелкозернистого материала освещается узким пучком рентгеновских лучей с определенной длиной волны. Картина дифракции лучей фиксируется на узкую полоску фотопленки, свернутую в виде цилиндра, по оси которого располагается исследуемый образец. Сравнительно реже применяется съемка на плоскую фотографическую пленку. Принципиальная схема метода дана на рис. 4. Рис. 4 Принципиальная схема съемки по методу порошка: 1 – диафрагма; 2 - место входа лучей; 3 - образец: 4 - место выхода лучей; 5 - корпус камеры; 6 - (фотопленка) Когда пучок монохроматических лучей падает на образец, состоящий из множества мелких кристалликов с разнообразной ориентировкой, то в образце всегда найдется известное количество кристалликов, которые будут расположены таким образом, что некоторые группы плоскостей будут образовывать с падающим лучом угол q, удовлетворяющий условиям отражения. Однако в различных кристалликах рассматриваемые плоскости отражения, составляя один и тот же угол q с направлением первичного луча, могут быть по-разному повернуты относительно этого луча, в результате чего отраженные лучи, составляя с первичным лучом один и тот же угол 2q, будут лежать в различных плоскостях.
Оказалось, что Полинг работал с неверными данными и в итоге предпочел тройную спираль для ДНК вместо двойной, которую предложили Уотсон и Крик в 1953 году, имея на руках блестящие данные рентгенограмм Розалинды Франклин.) Вскоре после выступления Полинга и Кори датский биохимик К. Линдерстрем-Ланг предложил четырехуровневое строение белка, исходя из теоретических соображений (см. рис. 3.6). Современный уровень знаний позволил добавить еще два уровня, о которых мы поговорим, рассмотрев вначале некоторые опытные данные. В 1957 году химик Джон Кендрю после завершения в Кембриджском университете (Великобритания) большой работы с использованием методов рентгеноструктурного анализа определил точное трехмерное строение белка миоглобина, доставляющего кислород к мышцам. Посмотрев на итоговые результаты, Кендрю заметил: «Пожалуй, более всего эту молекулу отличают упорядоченность и отсутствие всякой симметрии». Все дело в том, что белки обычно имеют скрученное, витое трехмерное строение. Даже опытным исследователям нужно приложить немало усилий, чтобы усмотреть в моделях белков некие закономерности
1. Анализ криптостойкости методов защиты информации в операционных системах Microsoft Window 9x
3. Контент-анализ, как метод исторического исследования
4. Морфодинамический анализ как метод для целей градостроительного планирования
5. Анализ альтернативных методов формирования структуры организации
9. Анализ современных методов обучения в ВУЗе
10. Контент-анализ как метод сбора социологической информации
11. Анализ различных методов оценки статистических показателей при типическом отборе
12. Экономическая сущность эффективности производства, показатели и методы, применяемые для её оценки
13. Метод конечных разностей или метод сеток
14. Методы обучения и классификация методов обучения
15. Методи лінгвістичних досліджень.Описовий метод. Порівняльно-історичний метод
18. Метод конечных разностей или метод сеток
19. Выбор и оценка методов обработки женского жакета. Методы обработки накладного кармана
20. Метод действенного анализа в режиссуре театра, кино и телевидения
25. Методы молекулярной спектрометрии в анализе объектов окружающей среды
26. Поляриметрические методы анализа
27. Методы анализа финансовых рынков
28. Спрос на торговом предприятии и методы анализа спроса
29. Методы научного анализа размещения и территориальной организации народного хозяйства Украины
30. Статистические методы анализа финансового состояния предприятия в условиях рынка
31. Анализ методов прогнозирования предпосылок банкротства коммерческих организаций
32. Отчёт по методу анализ финансовых коэффициентов
33. Численные методы анализа и синтеза периодических сигналов
34. Аргентометрические методы анализа лекарственных средств
36. Цели обращения исследователя к методу анализа содержания
41. Методы и приемы финансового анализа и прогнозирования
42. Анализ экономических задач симплексным методом
43. Статистический анализ инфляции и методы ее измерения
44. Анализ динамики внп методом линейной регрессии
45. Методы анализа производственного травматизма
47. Статистика населения. Метода анализа динамики численности и структуры населения
48. Методы поиска и анализа информации
49. Численные методы анализа и синтеза периодических сигналов
50. Метод определения спроса на основе анализа цен и объемов продаж
51. Статистические методы анализа финансового состояния предприятия в условиях рынка
52. Использование методов операционного анализа в управлении финансовыми ресурсами
53. Методы анализа сводной (консолидированной) отчетности
57. Разработка методов анализа деформаций подземных сооружений
58. Анализ методов сортировки одномерного массива
59. Новый подход к построению методов межпроцедурного анализа программ
60. Методы анализа монтажа, замены, исключения "черного ящика"
61. Методы анализа электромеханических устройств
62. Методы изучения и анализа существующих систем управления
63. Методы анализа рынка сбытов с целью установления цены продукта
64. Метод экспертных оценок в анализе качества обучающего процесса в ИП "Стратегия"
65. Современные методы фармацевтического анализа
66. Анализ методов прогнозирования
67. Анализ и совершенствование методов управления персоналом
68. Анализ процессов и методов манипулирования в бизнесе
73. Анализ обеспеченности жильем населения Калужской области с использованием статистических методов
74. Методы анализа эмпирических данных
75. Анализ цепи во временной области различными методами
76. Современная научно-техническая документация на статистические методы анализа результатов измерений
77. Электрохимические методы анализа, их теоретические основы и классификация
78. Анализ и выявление наиболее оптимальных методов развития силовых способностей
79. Методы анализа отклонении фактических результатов от плановых в системе контроллинга
80. Методы финансового анализа для целей оценки бизнеса
81. Системы и методы инвестиционного анализа
82. Спектральные методы анализа
85. Масс-спектрометрический метод анализа
90. Информационные технологии для метода функционально-стоимостного анализа
91. Методы анализа основной тенденции развития в рядах динамики
92. Методы анализа экономической информации и принятия бизнес-решений
93. Методы регионального анализа
94. Методы экономического анализа
95. Понятие метода и методики экономического анализа, задачи
96. Применение индексного метода при анализе цен
97. Статистические методы анализа динамики объема производства